德国尼克斯 QNix4500E 一体式精密低量程 Fe/NFe 双用涂层测厚仪

产品描述

QNix4500E 为低量程精密显示型一体式机型，Fe/NFe 量程均为 0–1000 μm，显示精度在 1 μm（@1–999 μm）区间优化，适合需要稳定精密读数的薄膜与精细涂层检测（电子件、精密五金、薄膜涂层等）。

规格参数

• 测量模式：Fe / NFe 双用（自动识别基体）

• 测量范围：Fe: 0 ~ 1000 μm；NFe: 0 ~ 1000 μm

• 结构：一体式

• 显示精度：1 μm（@1 ~ 999 μm）

• 测量精度：按 ±(2 + 3%) μm 标准（在本型号主要关注 0–1000 μm 区间）

• 最小测量面积：Fe: 10 × 10 mm；NFe: 6 × 6 mm

• 最小曲率半径：凸面 5 mm；凹面 25 mm

• 显示：点阵液晶

• 存储温度：-10 ℃ ~ 60 ℃

• 工作温度：0 ℃ ~ 50 ℃

• 电源：2 × 1.5 V 干电池

• 尺寸：100 × 60 × 27 mm

• 重量：105 g

• 典型误差示例：0–50 μm < ±1 μm；50–1000 μm < ±1.5/100（注：本型号以 1 μm 显示为主）

• 分辨率：1 μm 在 1–999 μm 显示区间；对微小厚度需参照仪器说明

• 零位校准、温度补偿、红宝石探头、直流采样：具备并适用

特点与用途

• 面向薄膜、精细涂层与电子件的精密测量需求

• 适用于精密制造、电子、精细喷涂与薄层电镀检测

QNix4500E参数详细表

• 零位校准：所有仪器测量前均需校准零位（校零板或未涂覆工件），零位稳定性决定测量准确性。

• 温度补偿：优质测厚仪具备温度补偿技术，以减小温度变化带来的测量误差。

• 红宝石探头：红宝石接触点耐磨损、寿命长、误差小，优于普通金属探头。

• 直流采样技术：提高测量重复性与稳定性，优于传统交流采样。

• 附件：常配软硅胶保护套、防尘套、校零板、备用电池、分体线缆（分体型号）等。